电子行业标准 标准编号 标准名称 SJ 1.1-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  电子工业标准年度计划编制工作的主要程序和要求 SJ 1.2-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  调整标准编制计划的原则和程序 SJ 1.3-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  编制电子工业技术标准主办单位责任制 SJ 1.4-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  电子工业技术标准编制计划实施阶段划分及要求 SJ 1.5-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  标准草案（送审稿）函审程序 SJ 1.6-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  电子工业技术标准报批程序和规定 SJ 1.7-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  标准草案（报批稿）报批时资料齐套性要求 SJ 1.8-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  标准草案编写时应遵循的要求 SJ 1.9-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  标准草案（报批稿）报批审查时退稿的原则和程序 SJ 1.10-87 电子工业技术标准制修订工作有关规范和要求 标准草案（送审稿）审定会会议纪要（或审定结论）的主要内容 SJ 1.11-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 标准草案（报批稿）报批报告的内容 SJ 1.12-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 对专业标准化技术委员会审查标准草案（报批稿）的要求 SJ 26-79 小功率电子管寿命试验方法 SJ 30-84 半导体管调幅广播收音机分类与基本参数 SJ/T 37-96 电子工业专用设备型号编制及命名方法 SJ/Z 44-64 电镀和化学涂覆典型工艺过程 SJ 42-77 金属镀层和化学处理层的分类、特性、应用范围和标记 SJ/Z 44-64(附件) 电镀溶液分析方法 SJ 46-65 φ２００ｍｍ电磁式扬声器技术条件 SJ 91-86 ＤＨ型信号灯盒 SJ 92-86 ＢＨ型熔断器盒 SJ 94-78 ＣＡ型矩形插头座 SJ 96-65 ＣＢ２型矩形插头座 SJ 97-65 变压器和阻流圈用小型铁芯片 SJ 99-87 变压器和扼流圈用铁心片及铁心叠厚系列 SJ 119-86 中心安装的ＫＸ０１型旋转片式开关（低电负荷）  最多１２位、最大直径５５毫米 SJ 738-86 中心安装的ＫＸ０３型旋转片式开关（低电负荷）  最多12位、最大直径４０毫米 SJ 739-86 中心安装的ＫＸ０４形旋转片式开关（低电负荷）  最多１２位、最大直径３０毫米 SJ 740-86 中心安装的ＫＸ０５型旋转片式开关（低电负荷）  最多１２位、最大直径２５毫米 SJ 2687-86 中心安装的ＫＸ０６型旋转片式开关（低电负荷）  最多１２位、最大直径１６毫米 SJ 2688-86 中心安装的ＫＸ０７型１０位通转片式开关（低电负荷）  最大直径２５毫米 SJ 2689-86 中心安装的ＫＸ１０型旋转片式开关（低电负荷）  最多１２位、最大直径５５毫米 SJ 2690-86 中心安装的ＫＸ１１型旋转片式开关（低电负荷）  最多１２位、最大直径５５毫米 SJ 2691-86 中心安装、双孔定位的ＫＸ１３型旋转片式开关（低电负荷）  最多１２位、最大直径４２毫米 SJ 2692-86 中心安装的ＫＸ１４型旋转片式开关（低电负荷）  最多１２位、最大直径３０毫米 SJ 2693-86 中心安装的ＫＸ１５型旋转片式开关（低电负荷）  最多１２位、最大直径２５毫米 SJ 2694-86 中心安装的ＫＸ１７型旋转片式开关（低电负荷）  最多１２位、最大直径３０毫米 SJ/T 142-96 电子工业专用设备通用规范 SJ/T 143-96 被银陶瓷零件 SJ 151A-84 电子设备用继电器规格号标志方法 SJ 152-75 电子计算机型号命名方法 SJ 1230-77 锗检波二极管高频整流电流的测试方法 SJ 198-80 计数管总技术条件 SJ 202-81 印制板通用技术要求和试验方法 SJ/T 211.3-96 电子工业专用设备设计文件  第３部分：设计文件的格式 SJ/T 211.4-96 电子工业专用设备设计文件  第４部分：设计文件的编制 SJ/T 207.1-1999 设计文件的管理制度  第一部分  设计文件的分类和组成 SJ/T 207.2-1999 设计文件的管理制度  第二部分  设计文件的格式 SJ/T 207.3-1999 设计文件的管理制度  第三部分  文字内容和表格形式设计文件的编制方法 SJ/T 211.1-96 电子工业专用设备设计文件  第１部分：设计文件的完整性 SJ/T 211.2-96 电子工业专用设备设计文件  第２部分：图样的标题栏、附加栏和明细栏 SJ/T 211.6-1999 电子工业专用设备设计文件  第６部分：设计文件的更改 SJ 280-80 电子设备车辆通用技术条件 SJ 261-66 双极型插头和插座 SJ 295-72 手摇发电机型号命名方法 SJ 298-72 ＣＤ１型矩形插头座 SJ 324-72 钼片 SJ/Z 330-72 镀镍铁带镍层厚度的金相测定法 SJ 332-73 高可靠姆指式（超小型）收讯放大管总技术条件 SJ 338-73 高压整流管总技术条件 SJ 343-73 微波气体放电管总技术条件 SJ 344-73 低噪声行波管总技术条件 SJ 345-73 功率行波管总技术条件 SJ 346-73 “Ｏ”型返波管总技术条件 SJ 347-73 反射速调管总技术条件 SJ 362-73 反射速调管测试条件 SJ 363-73 反射速调管反射极总电流、反射极离子流、反射极漏电流的测试方法 SJ 364-73 反射速调管阴极电流的测试方法 SJ 365-73 反射速调管灯丝电压改变时阴极电流变化率的测试方法 SJ 366-73 反射速调管各极间漏电流的测试方法 SJ 367-73 反射速调管输出功率的测试方法 SJ 368-73 反射速调管功率波动比的测试方法 SJ 369-73 反射速调管振荡频率的测试方法 SJ 370-73 反射速调管电子调谐范围的测试方法 SJ 371-73 反射速调管抗负载变化特性的测试方法 SJ 372-73 反射速调管电子调谐斜率的测试方法 SJ 373-73 反射速调管频率牵引的测试方法 SJ 374-73 反射速调管负载特性的测试方法 SJ 375-73 反射速调管脉冲调制特性的测试方法 SJ 376-73 反射速调管电子滞后的测试方法 SJ 377-73 反射速调管频率漂移系数的测试方法 SJ 378-73 反射速调管稳定频率建立时间的测试方法 SJ 379-73 反射速调管频率漂移的测试方法 SJ 380-73 反射速调管频率稳定特性的测试方法 SJ 381-73 反射速调管频率温度系数的测试方法 SJ 382-73 反射速调管频率的可重调性的测试方法 SJ 419-73 低噪声行波管测试条件 SJ 420-73 低噪声行波管各极电压和电流的测试方法 SJ 421-73 低噪声行波管末阳极与各极间的漏电电流的测试方法 SJ 422-73 低噪声行波管阴极预热时间的测试方法 SJ 423-73 低噪声行波管匹配特性的测试方法 SJ 424-73 低噪声行波管冷衰减量的测试方法 SJ 425-73 低噪声行波管功率增益的测试方法 SJ 426-73 低噪声行波管噪声系数的测试方法 SJ 427-73 低噪声行波管动态范围的测试方法 SJ 428-73 低噪声行波管带宽的测试方法 SJ 429-73 低噪声行波管工作频率范围的测试方法 SJ 430-73 “Ｏ”型返波管测试条件 SJ 431-73 “Ｏ”型返波管各极电压和电流的测试方法 SJ 432-73 “Ｏ”型返波管阴极预热时间的测试方法 SJ 433-73 “Ｏ”型返波管匹配特性的测试方法 SJ 434-73 “Ｏ”型返波管功率－电压特性的测试方法 SJ 435-73 “Ｏ”型返波管频率－电压特性的测试方法 SJ 436-73 “Ｏ”型返波管频率推移系数的测试方法 SJ 437-73 “Ｏ”型返波管频率牵引的测试方法 SJ 438-73 “Ｏ”型返波管寄生振荡信噪比的测试方法 SJ 439-73 “Ｏ”型返波管最大起振电流的测试方法 SJ 440-73 “Ｏ”型返波管截止栅压的测试方法 SJ 441-73 “Ｏ”型返波管工作频率范围的测试方法 SJ 442-73 高压整流管测试方法 SJ 443-73 高压整流管阴极加热时间的测试方法 SJ 444-73 高压整流管阳极电流与欠热时阳极电流的测试方法 SJ 445-73 高压整流管阴极脉冲放射电流和欠热阴极脉冲放射电流的测试方法 SJ 446-73 高压整流管管压降与欠热管压降的测试方法 SJ 447-73 高压整流管脉冲管压降与欠热脉冲管压降的测试方法 SJ 448-73 高压整流管静态特性曲线的测试方法 SJ 449-73 高压整流管耐压试验的测试方法 SJ 450-73 高压整流管阳极耗散功率的测试方法 SJ 451-73 高压整流管整流强度的测试方法 SJ 452-73 高压整流管反向电流的测试方法 SJ 453-73 高压整流管整流电流脉动峰值的测试方法 SJ 454-73 高压整流管峰值管压降、反向峰值管压降和整流电流的测试方法 SJ 455-73 高压整流管静态极间电容的测试方法 SJ 650-80 ＣＣＷ３型圆片形微调瓷介电容器 SJ 659-81 ＣＨ８１型高压密封复合介质电容器 SJ 660-73 ＣＨ８２型高压密封复合介质电容器 SJ/Z 730-73 电子束管系列型谱 SJ/Z 731-73 光电倍增管系列型谱 SJ/Z 732-73 充气管系列型谱 SJ/Z 733-73 Ｘ射线管系列型谱 SJ/Z 734-73 收讯放大管系列型谱 SJ/Z 736-73 静电控制发射管系列型谱 SJ 737-83 旋转片式开关（低电负荷）总技术条件 SJ 747-73 弹性钢丝挡圈 SJ 748-73 定位挡圈 SJ 752-73 定位销 SJ 755-73 碱性铁镍单体蓄电池 SJ 756-73 ２ＴＮ１０碱性蓄电池组 SJ 765-74 ３ＤＤ５０型和３ＤＤ５１型ＮＰＮ硅外延平面低频大功率三极管 SJ 766-74 ３ＤＤ５２型ＮＰＮ硅合金扩散低频大功率三极管 SJ 767-74 ３ＤＤ５３型和３ＤＤ５４型ＮＰＮ型硅外延平面低频大功率三极管 SJ 768-74 ３ＤＤ５５型ＮＰＮ硅合金扩散低频大功率三极管 SJ 769-74 ３ＤＤ５６型和３ＤＤ５７型ＮＰＮ硅外延平面低频大功率三极管 SJ 770-74 ３ＤＤ５８型ＮＰＮ硅合金扩散低频大功率三极管 SJ 771-74 ３ＤＤ５９型和３ＤＤ６０型ＮＰＮ硅外延平面低频大功率三极管 SJ 772-74 ３ＤＤ６１型ＮＰＮ硅合金扩散低频大功率三极管 SJ 773-74 ３ＤＤ６２型和３ＤＤ６３型ＮＰＮ硅外延平面低频大功率三极管 SJ 774-74 ３ＤＤ６４型ＮＰＮ硅合金扩散低频大功率三极管 SJ 775-74 ３ＤＤ６５型和３ＤＤ６６型ＮＰＮ硅外延平面低频大功率三极管 SJ 776-74 ３ＤＤ６７型ＮＰＮ硅合金扩散低频大功率三极管 SJ 777-74 ３ＤＤ６８型和３ＤＤ６９型ＮＰＮ硅外延平面低频大功率三极管 SJ 778-74 ３ＤＤ７０型ＮＰＮ硅合金扩散低频大功率三极管 SJ 779-74 ３ＤＤ７１型ＮＰＮ硅外延平面低频大功率三极管 SJ 780-74 ３ＤＤ７２型ＮＰＮ硅合金扩散低频大功率三极管 SJ 781-74 ３ＤＤ７３型ＮＰＮ硅外延平面低频大功率三极管 SJ 782-74 ３ＤＧ１００型ＮＰＮ硅平面高频小功率三极管 SJ 783-74 ３ＤＧ１０１型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 784-74 ３ＤＧ１０２型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 785-74 ３ＤＧ１０３型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 786-74 ３ＤＧ１１０型ＮＰＮ硅平面高频小功率三极管 SJ 787-74 ３ＤＧ１１１型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 788-74 ３ＤＧ１１２型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 789-74 ３ＤＧ１２０型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 790-74 ３ＤＧ１２１型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 791-74 ３ＤＧ１２２型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 794-74 ３ＤＧ１４１型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率低噪声三极管 SJ 795-74 ３ＤＧ１４２型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率低噪声三极管 SJ 796-74 ３ＤＧ１６０型ＮＰＮ硅平面高频小功率高反压三极管 SJ 797-74 ３ＤＧ１６１型ＮＰＮ硅平面高频小功率高反压三极管 SJ 799-74 ３ＤＧ１７０型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率高反压三极管 SJ 800-74 ３ＤＧ１８０型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率高反压三极管 SJ 801-74 ３ＤＧ１８１型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率高反压三极管 SJ 811-74 辉光放电计数管起辉电压的测试方法 SJ 812-74 辉光放电计数管暗室起辉电压的测试方法 SJ 813-74 辉光放电计数管管压降的测试方法 SJ 814-74 辉光放电计数管正弦工作状态的测试方法 SJ 815-74 辉光放电计数管脉冲工作状态的测试方法 SJ 816-74 辉光放电计数管复位性能的测试方法 SJ 861-74 真空电阻炉基本参数系列 SJ 862-74 氢气电阻炉基本参数系列 SJ/Z 863-80 振动、碰撞、冲击、恒加速度试验设备系列型谱 SJ 864-74 ＦＵ－５（Ｍ）型发射管 SJ 871-74 ＷＹ－２Ｐ型辉光放电稳压管 SJ 872-74 ＷＹ－３Ｐ型辉光放电稳压管 SJ 873-74 ＷＹ－４Ｐ型辉光放电稳压管 SJ 907-74 ＬＧ１和ＬＧ２型固定电感器 SJ 909-74 ２ＣＷ５０～１４９型硅半导体稳压二极管 SJ 910-74 ３ＤＷ５０～２０２型硅半导体稳压二极管 SJ 911-74 ２ＤＷ２３０～２３６型硅平面温度补偿稳压二极管 SJ 933-75 半导体调幅广播收音机用输出输入变压器 SJ 934-75 ３ＤＤ１００型硅ＮＰＮ低频高反压大功率三极管 SJ 935-75 3DD101、3DD102型硅NPN低频高反压大功率三极管 SJ 936-75 3DD103、3DD104型硅NPN低频高反压大功率三极管 SJ 946-83 电子测量仪器电气、机械结构基本要求 SJ 948-84 黑白电视广播接收机分类与基本参数 SJ 966-75 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法 SJ 973-85 Ｌ２７型射频连接器 SJ 979-75 ６Ｐ１３Ｐ型（Ｍ）电子管 SJ 980-75 ＲＸ－２１型微波气体放电管 SJ 984-75 １３ＳＪ３８型示波管 SJ 986-75 １５ＸＹＧ４５碱性蓄电池组 SJ 987-75 双动冲床引伸模  落料引伸模 SJ 988-75 双动冲床引伸模  首次引伸模 SJ 989-75 双动冲床引伸模  以后各次引伸模 SJ 990-75 双动冲床引伸模  上托 SJ 991-75 双动冲床引伸模  底座 SJ 992-75 双动冲床引伸模  垫板 SJ 993-75 双动冲床引伸模  固定板定位板 SJ 994-75 双动冲床引伸模  卸料板 SJ 995-75 双动冲床引伸模  落料凹模  引伸凹模 SJ 996-75 双动冲床引伸模  螺纹冲头把 SJ 997-75 双动冲床引伸模  冲头把 SJ 998-75 双动冲床引伸模  冲头把 SJ 999-75 双动冲床引伸模  落料凸模 SJ 1000-75 双动冲床引伸模  引伸凸模 SJ 1001-75 双动冲床引伸模  首次引伸压边圈 SJ 1002-75 双动冲床引伸模  以后各次引伸压边圈 SJ 1003-75 双动冲床引伸模  通用模架 SJ 1004-75 双动冲床引伸模  上托 SJ 1005-75 双动冲床引伸模  底座 SJ 1006-75 双动冲床引伸模  下压板 SJ 1007-75 双动冲床引伸模  上压板 SJ 1008-75 双动冲床引伸模  螺钉 SJ 1009-75 手柄翻开式钻模  模架 SJ 1010-75 手柄翻开式钻模  钻模板 SJ 1011-75 手柄翻开式钻模  压板 SJ 1012-75 手柄翻开式钻模  搭扣 SJ 1013-75 手柄翻开式钻模  导柱 SJ 1014-75 手柄翻开式钻模  钻脚 SJ 1015-75 手柄翻开式钻模  支柱 SJ 1016-75 手柄翻开式钻模  支架 SJ 1017-75 手柄翻开式钻模  钻套 SJ 1018-75 ＣＡ３０型管状非固体电解质烧结钽电容器 SJ 1023-76 ＦＵ－８１型电子管 SJ 1035-76 ２３ＳＸ５Ｂ型显像管 SJ 1036-76 Ｂ－１型低噪声行波管 SJ 1041-82 CBM-202B型双联薄膜介质可变电容器 SJ 1051-76 Ｋ－１９型反射速调管 SJ 1052-76 Ｋ－２０型反射速调管 SJ 1053-76 Ｋ－２７型反射速调管 SJ 1055-76 ＣＫＭ－３０型脉冲磁控管 SJ 1056-76 ＣＫＭ－９９型脉冲磁控管 SJ/Z 1081-76 电镀溶液分析方法的一般要求 SJ/Z 1082-76 镀镍溶液典型分析方法 SJ/Z 1083-76 镀铬溶液典型分析方法 SJ/Z 1084-76 镀铜溶液典型分析方法 SJ/Z 1085-76 镀锌溶液典型分析方法 SJ/Z 1086-76 镀镉溶液典型分析方法 SJ/Z 1087-76 镀锡溶液典型分析方法 SJ/Z 1088-76 氧化镀银溶液典型分析方法 SJ/Z 1089-76 镀金溶液典型分析方法 SJ/Z 1090-76 镀铂溶液典型分析方法 SJ/Z 1091-76 镀钯溶液典型分析方法 SJ/Z 1092-76 镀铑溶液典型分析方法 SJ/Z 1093-76 氰化镀铜锌合金（黄铜）溶液典型分析方法 SJ/Z 1094-76 氰化镀铜锡合金溶液典型分析方法 SJ/Z 1095-76 镀铅锡合金溶液典型分析方法 SJ/Z 1096-76 合金镀层的典型分析方法 SJ/Z 1097-76 其他溶液的典型分析方法 SJ 1102-76 反向阻断型普通半导体闸流管（普通可控整流器） SJ 1120-76 ＦＵ－７型（Ｍ）电子管 SJ 1121-76 ＦＵ－７型（Ｊ）电子管 SJ/Z 1122-76 荧光数字符号指示管系列型谱 SJ 1123-76 ＱＳ３０－１型辉光放电数字管 SJ 1129-77 扬声器系统电声参数测试方法（暂行） SJ 1130-77 ２ＤＬ５１～５６、２ＣＬ５１～５６型硅高压整流堆 SJ 1143-77 Ｂ－１０１型低噪声行波管 SJ/T 1145-93 电容器用有机薄膜电性能试验方法通则 SJ/T 1146-93 电容器用有机薄膜体积电阻率试验方法 SJ/T 1148-93 电容器用有机薄膜击穿强度试验方法 SJ 1152-77 粮食温度电子测量仪器技术条件 SJ/T 1147-93 电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法 SJ 1158-77 ＭＦ１１型普通用负温度系数热敏电阻器 SJ 1159-77 ＭＦ１２型普通用负温度系数热敏电阻器 SJ 1160-77 ＭＦ１３型普通负温度系数热敏电阻器 SJ 1161-77 ＭＦ１４型普通用负温度系数热敏电阻器 SJ 1162-77 ＭＦ１５型普通用负温度系数热敏电阻器 SJ 1163-77 ＭＦ１６型普通用负温度系数热敏电阻器 SJ 1165-77 阴极射线荧光粉  Ｙ６荧光粉 SJ 1168-77 阴极射线荧光粉  Ｙ１２荧光粉 SJ/Z 1171-77 电镀溶液极化曲线的测试方法 SJ/Z 1172-77 电镀溶液分散能力的测定方法 SJ/Z 1173-77 电镀溶液电流效率的测定方法 SJ 1185-77 彩色电视测量测试卡（CT752卡）（暂行） SJ 1225-77 ２ＡＰ１１～２ＡＰ１７型锗检波二极管 SJ 1226-77 ２ＡＰ９～２ＡＰ１０型锗检波二极管 SJ 1227-77 ２ＡＰ１～２ＡＰ８、２ＡＰ２１和２ＡＰ２７型锗检波二极管 SJ 1228-77 ２ＡＰ３０～２ＡＰ３１型锗宽带检波二极管 SJ 1229-77 ２ＡＫ１～２０型锗开关二极管 SJ 1241-77 纸介电容器总技术条件 SJ 1247-77 ＣＺ４０型密封纸介电容器 SJ 1248-77 ＣＺ４１型密封纸介电容器 SJ 1249-77 ＣＺ８２型高压密封纸介电容器 SJ 1263-77 单相变压器用ＸＥＤ、ＸＣＤ型Ｃ形铁芯 SJ 1267-77 半导体器件用散热器在自然空气冷却状态下的热阻测试方法 SJ 1269-77 ＦＢＪ型通心玻璃粉绝缘子 SJ 1270-77 通心玻璃绝缘子 SJ 1274-77 金刚石拉丝模 SJ 1276-77 金属镀层和化学处理层质量检验技术要求 SJ 1277-77 金属镀层和化学处理层质量检验验收规则 SJ 1278-77 金属镀层和化学处理层外表的检验方法 SJ 1279-77 金属镀层硬度的检验方法 SJ 1280-77 金属镀层孔隙率的检验方法 SJ 1281-77 金属镀层和化学处理层厚度的检验方法 SJ 1282-77 金属镀层结合力的检验方法 SJ 1283-77 金属镀层和化学处理层腐蚀试验方法 SJ 1284-77 金属镀层腐蚀试验结果评定方法 SJ 1285-77 铝和铝合金氧化处理层电气绝缘性能的测试方法 SJ 2028-82 直热式正温度系数热敏电阻器总技术条件 SJ 2028.1-83 ＭＺ１１型补偿用正温度系数热敏电阻器 SJ 2028.2-83 ＭＺ６１型控温用正温度系数热敏电阻器 SJ 2029-82 可见光光敏电阻器总技术条件 SJ 2030-82 ＭＧ４１型密封硫化镉光敏电阻器 SJ 2031-82 MG42型密封硫化镉光敏电阻器 SJ 2052-82 ３０兆赫以下石英谐振器频率和等效电路参数的测量方法－传输法 SJ 2053-82 石英谐振器寄生响应测量方法 SJ 2056-82 号筒式电动扬声器技术条件 SJ 2057-82 号筒式电动扬声器功率系列及基本参数 SJ 2065-82 半导体器件生产用扩散炉测试方法 SJ 2066-82 小模数渐开线圆柱齿轮通用技术条件 SJ/Z 2067-82 电子工业专用设备锻件通用技术要求 SJ/Z 2068-82 电子工业专用设备金属焊接通用技术要求 SJ 2070-82 ＣＹ４０１型印制电路插座 SJ 2072-82 半导体管电视机中频变压器及收音机短波振荡线圈磁芯 SJ 2073-82 半导体管收音机中频变压器及振荡线圈磁芯 SJ 2081-82 干簧管总技术条件 SJ/Z 2082-82 永磁直流力矩电动机用稀土钴永磁体 SJ 2085-82 聚氯乙烯绝缘安装软线 SJ 2086-82 聚氯乙烯绝缘安装线 SJ 2569-85 声表面波滤波器术语和定义 SJ 2570-85 声表面波滤波器性能测试方法 SJ 2089-82 电子测量仪器型号命名方法 SJ/Z 2091-82 信息处理交换用七位编码字符集  键盘的常用控制键、功能键的排列和接口 SJ 2092-82 ＣＳ３５型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ 2093-82 ＣＳ３６型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ 2094-82 ＣＳ３７型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ 2095-82 ＣＳ３８型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ 2096-82 ＣＳ３９型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ 2097-82 ＣＳ４０型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ 2098-82 ＣＳ４１型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ 2099-82 ＣＳ４２型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ 2100-82 ＣＳ４３型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ 2101-82 ＣＳ４４型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ 2102-82 ＣＳ４５型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ 2103-82 ＣＳ４６型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ 2104-82 ＣＳ４７型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ 2105-82 ＣＳ４８型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ 2106-82 ＣＳ４９型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ 2107-82 ＣＳ５０型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ 2108-82 ＣＳ５１型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ 2109-82 CKM-29B、CKM-29C、CKM-29D、CKM-29E、CKM-29F、CKM-29G型脉冲磁控管 SJ 2112-82 厅堂扩声系统设备互联的优选电气配接值 SJ 2124-82 弹性管联轴节 SJ 2125-82 十字滑块联轴节 SJ 2126-82 波纹管联轴节 SJ 2127-82 薄膜联轴节 SJ 2130-82 电子束管屏内刻度 SJ 2131-82 洁净工作台通用技术条件 SJ 2133-82 氧化物阴极加速寿命试验方法 SJ 2137-82 硅稳流二极管测试方法总则 SJ 2138-82 硅稳流二极管稳定电流的测试方法 SJ 2139-82 硅稳流二极管动态阻抗的测试方法 SJ 2140-82 硅稳流二极管极限电压的测试方法 SJ 2141-82 硅稳流二极管击穿电压的测试方法 SJ 2142-82 硅稳流二极管电流温度系数的测试方法 SJ 2148-82 硅稳流三极管动态阻抗的测试方法 SJ 2152-82 烧结含油轴承 SJ 2154-82 薄膜集成电路用微晶玻璃基片 SJ/Z 2165-82 单相Ｃ型铁芯电源变压器和滤波阻流圈典型计算 SJ 2168-82 涂覆用环氧粉末 SJ 2170-82 一般电子产品运输包装基本试验方法  总则 SJ 2176-82 电子产品防潮包装容器透湿度试验方法 SJ 2179-82 压电滤波器术语和定义 SJ 2182-82 压电滤波器总技术条件 SJ 2193-82 整流滤波阻流圈电气参数系列 SJ 2194-82 ＣＤＬ－１００／Ｃ型Ｃ型铁芯滤波阻流圈（电容输入式） SJ 2195-82 ＣＤＬ－１００／Ｌ型Ｃ型铁芯滤波阻流圈（电感输入式） SJ 2196-82 地面用硅太阳电池电性能测试方法 SJ 2197-82 地面用标准硅太阳电池的标定 SJ 2199-82 电声器件名词术语 SJ 2206-82 Ｋ－２１系列反射速调管 SJ 2214.1-82 半导体光敏管测试方法总则 SJ 2214.2-82 半导体光敏二极管正向压降的测试方法 SJ 2214.3-82 半导体光敏二极管暗电流的测试方法 SJ 2214.4-82 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法 SJ 2214.5-82 半导体光敏二极管结电容的测试方法 SJ 2214.6-82 半导体光敏三极管集电极－发射极反向击穿电压的测试方法 SJ 2214.7-82 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法 SJ 2214.8-82 半导体光敏三极管暗电流的测试方法 SJ 2214.9-82 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法 SJ 2214.10-82 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法 SJ 2215.1-82 半导体光耦合器测试方法总则 SJ 2215.2-82 半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法 SJ 2215.3-82 半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试方法 SJ 2215.4-82 半导体光耦合器（二极管）反向电流的测试方法 SJ 2215.5-82 半导体光耦合器（二极管）反向击穿电压的测试方法 SJ 2215.6-82 半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法 SJ 2215.7-82 半导体光耦合器集电极－发射极反向击穿电压的测试方法 SJ 2215.8-82 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法 SJ 2215.9-82 半导体光耦合器（三极管）反向截止电流的测试方法 SJ 2215.10-82 半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法 SJ 2215.11-82 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法 SJ 2215.12-82 半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法 SJ 2215.13-82 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法 SJ 2215.14-82 半导体光耦合器入出间绝缘耐压的测试方法 SJ 2216-82 硅光敏二极管 SJ 2217-82 硅光敏三极管 SJ 2218-82 半导体光敏二极管型光耦合器 SJ 2219-82 半导体光敏三极管型光耦合器 SJ 2220-82 半导体达林顿型光耦合器 SJ 2221-82 中、小型系列组合夹具技术要求 SJ 2222-82 中、小型系列组合夹具编号规则 SJ 2223-82 中型系列组合夹具结构要素 SJ 2224-82 小型系列组合夹具结构要素 SJ 2225-82 中型系列组合夹具类型和规格尺寸 SJ 2226-82 小型系列组合夹具类型和规格尺寸 SJ 2232-82 厚膜、薄膜集成电路金属外壳技术条件 SJ 2231-82 厚膜、薄膜集成电路直流稳压电源系列和品种 SJ 2240-82 空气介质片型微调电容器总技术条件 SJ 2240.1-82 ＣＷ１和ＣＷ１Ｓ型空气介质片型微调电容器 SJ 2240.2-82 ＣＷ２和ＣＷ２Ｓ型空气介质片型微调电容器 SJ 2240.3-82 ＣＷ３和ＣＷ３Ｓ型空气介质片型微调电容器 SJ 2240.4-82 ＣＷ３１型空气介质片型微调电容器 SJ 2240.5-82 ＣＷ３２型空气介质片型微调电容器 SJ 2240.6-82 ＣＷ４１和ＣＷ４１Ｓ型空气介质片型微调电容器 SJ 2240.7-82 ＣＷ４２型空气介质片型微调电容器 SJ 2240.8-82 ＣＷ５和ＣＷ５Ｓ型空气介质片型微调电容器 SJ 2241-82 同心型微调电容器总技术条件 SJ 2241.1-82 ＣＷＴ２型同心型微调电容器 SJ 2241.2-82 ＣＷＴ４Ｙ型同心型微调电容器 SJ 2241.3-82 ＣＷＴ５Ｙ型同心型微调电容器 SJ 2241.4-82 ＣＷＴ６型同心型微调电容器 SJ 2241.5-82 ＣＷＴ７Ｌ型同心型微调电容器 SJ 2241.6-82 ＣＷＴ８Ｚ型同心型微调电容器 SJ 2241.7-82 ＣＷＴ９Ｊ型同心型微调电容器 SJ 2242-82 散热器强制风冷热阻测试方法 SJ 2244-82 ＲＸ－５４型微波气体放电管 SJ 2245-82 ＲＸ－７型微波气体放电管 SJ 2246-82 ＲＸ２０２、ＲＸ２０３型微波气体放电管 SJ 2247-82 半导体光电子器件外形尺寸 SJ 2253-82 阴极碳酸盐颗粒度的测定方法 SJ 2254-82 阴极碳酸盐分析方法的一般要求（暂行） SJ 1286-77 ＦＵ－１０５Ｚ型电子管 SJ 1287-77 ＦＵ－１０１Ｆ（Ｚ）型电子管 SJ 1381-78 实验二极管结构与工艺 SJ 1382-78 ＦＵ－８２２Ｚ（Ｆ）型电子管 SJ 1383-78 ＦＵ－１０４Ｚ型电子管 SJ 1385-78 噪声二极管和气体放电噪声管总技术条件 SJ 1386-78 噪声二极管和气体放电噪声管测试条件 SJ 1387-78 噪声二极管灯丝电流和灯丝电压的测试方法 SJ 1388-78 噪声二极管阳极电导的测试方法 SJ 1389-78 噪声二极管极间漏电流的测试方法 SJ 1390-78 噪声二极管超噪功率非线性系数的测试方法 SJ 1391-78 噪声二极管冷态电压驻波系数的测试方法 SJ 1392-78 噪声二极管超噪功率的测试方法 SJ 1393-78 气体放电噪声管阴极预热时间的测试方法 SJ 1394-78 气体放电噪声管着火电压的测试方法 SJ 1395-78 气体放电噪声管阳极电流和管压降的测试方法 SJ 1396-78 气体放电噪声管电压驻波系数的测试方法 SJ 1397-78 气体放电噪声管衰减量的测试方法 SJ 1398-78 气体放电噪声管超噪比及其不稳定度的测试方法 SJ 1405-78 ３ＤＡ１型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1406-78 ３ＤＡ９６型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1407-78 ３ＤＡ４型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1408-78 ３ＤＡ１０１型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1409-78 ３ＤＡ３型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1410-78 ３ＤＡ９８型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1411-78 ３ＤＡ５型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1412-78 ３ＤＡ１４型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1413-78 ３ＤＡ２型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1414-78 ３ＤＡ１０２型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1415-78 ３ＤＡ２８型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1416-78 ３ＤＡ１００型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1417-78 ３ＤＡ１０３型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1418-78 ３ＤＡ１０型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1419-78 ３ＤＡ１８型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1420-78 ３ＤＡ１０４型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1421-78 ３ＤＡ２２型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1422-78 ３ＤＡ３７型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1423-78 ３ＤＡ３２型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1424-78 ３ＤＡ１０５型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1425-78 ３ＤＡ１０６型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1426-78 ３ＤＡ２１型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1427-78 ３ＤＡ９２型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1428-78 ３ＤＡ１０７型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1429-78 ３ＤＡ１０８型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1430-78 ３ＤＡ８９型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1431-78 ３ＤＡ３９型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1436-78 ＣＫＭ－１０４型脉冲磁控管 SJ 1437-78 ＣＫＭ－１０４Ｂ型脉冲磁控管 SJ 1438-78 ＣＫＭ－１１４型脉冲磁控管 SJ 1439-78 ＣＫＭ－１１４Ｂ型脉冲磁控管 SJ 1457-79 低速型、中速型通用电子计数器技术条件 SJ 1458-79 电子计数器测试方法 SJ/Z 1463-79 无线电陶瓷材料化学分析方法的一般要求 SJ/Z 1464-79 矿物原料的化学分析方法 SJ/Z 1465-79 陶瓷坯料的化学分析方法 SJ/Z 1466-79 化工原料的化学分析方法 SJ 1468-79 ３ＣＧ１００型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 1469-79 ３ＣＧ１０１型ＰＮＰ硅平面高频小功率三极管 SJ 1470-79 ３ＣＧ１０２型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 1471-79 ３ＣＧ１０３型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 1472-79 ３ＣＧ１１０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 1473-79 ３ＣＧ１１１型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 1474-79 ３ＣＧ１１２型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 1475-79 ３ＣＧ１１３型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 1476-79 ３ＣＧ１１４型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 1477-79 ３ＣＧ１２０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 1478-79 ３ＣＧ１２１型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 1479-79 ３ＣＧ１２２型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 1480-79 ３ＣＧ１３０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 1481-79 ３ＣＧ１３１型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 1482-79 ３ＣＧ１３２型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管 SJ 1483-79 ３ＣＧ１４０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率低噪声三极管 SJ 1484-79 ３ＣＧ１６０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率高反压三极管 SJ 1485-79 ３ＣＧ１７０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率高反压三极管 SJ 1486-79 ３ＣＧ１８０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率高反压三极管 SJ 1487-79 反向阻断型高频半导体闸流管 SJ 1488-79 反向阻断型高频半导体闸流管额定高频通态平均电流ＩT的测试方法 SJ/T 1505-97 旋磁铁氧体材料成品、半成品化学分析方法 SJ 1512-79 扬声器用Φ４０～１１５ｍｍ永磁铁氧体磁体尺寸系列 SJ 1515-79 微动开关总技术条件 SJ 1516-79 ＫＷ１型微动开关 SJ 1517-79 ＫＷ２型微动开关 SJ 1518-79 ＫＷ３型微动开关 SJ 1519-79 ＫＷ４型微动开关 SJ 1520-79 ＫＷ５型微动开关 SJ 1521-79 钮子开关总技术条件 SJ/Z 1526-79 锌银碱性蓄电池系列型谱 SJ 1531-79 金属陶瓷电子管引出环接触直径系列 SJ 1532-79 ＣＫＭ－５５～５７系列脉冲磁控管 SJ 1533-79 ＦＵ－４３３Ｓ型发射管 SJ 1538-87 电真空器件用镍及镍合金化学成分 SJ 1540-87 电真空器件用镍及镍合金丝 SJ 1541-87 电真空器件用镍及镍合金带 SJ 1539-87 电真空器件用镍及镍合金薄壁管 SJ 1542-87 电真空器件用镍及镍合金化学分析方法 SJ 1543-88 电真空器件用镍及镍合金光谱分析方法 SJ/Z 1544-79 镍钨镁合金的光谱分析方法 SJ 1545-79 ＣＫＭ－１２０型脉冲磁控管 SJ 1546-79 ＣＫ－１４０Ｂ型连续波磁控管 SJ 1547-79 ＣＫ－１４１型连续波磁控管 SJ 1549-79 硅外延片（暂行） SJ 1550-79 硅外延片检测方法 SJ 1551-79 硅外延层电阻率测试方法（电容－电压法）（暂行） SJ 1554-80 ＭＦ５１型珠状热敏电阻器 SJ 1555-80 ＭＦ５２型珠状热敏电阻器 SJ 1558-80 ＭＦ４１型和ＭＦ４４型旁热型负温度系数热敏电阻器 SJ 1559-80 稳压型负温度系数热敏电阻器总技术条件 SJ 1560-80 ＭＦ２１型和ＭＦ２２型稳压型负温度系数热敏电阻器 SJ 1563-80 实心聚四氟乙烯绝缘同轴射频电缆（暂行） SJ 1575-80 ＢＢ－１Ａ型＂Ｏ＂型返波管 SJ 1583-80 玻璃介质微调电容器总技术条件 SJ 1584-80 ＣＷＢ５１型玻璃介质微调电容器 SJ 1585-80 温差发电器型号命名方法 SJ 1587-80 电真空器件用钍钨铼丝 SJ 1590-80 铈钨粉、块、杆中氧化铈的分析方法 SJ 1591-80 电真空器件用钍钨铼丝中氧化钍和铼的分析方法 SJ 1594-80 ＫＺＪ１型直键开关 SJ 1595-80 ＫＺＪ２型直键开关 SJ 1596-80 ＸＤ５１－２０、４０／１００，ＸＤ５１－２０、４０／１２５型旋转阳极Ｘ射线管 SJ 1598-80 ＦＵ－２３Ｓ（Ｚ）型发射管 SJ 1617-80 ＣＫ－６０３型连续波磁控管 SJ 1618-80 温差发电器名词术语 SJ 1619-80 半导体管电视广播接收机用中频变压器及可调线圈 SJ 1620-80 ＴＭ－９０型（Ｊ）脉冲调制管 SJ 1627-80 ＣＫＭ－１４Ｈ型脉冲磁控管 SJ 1628-80 冷冲压零件尺寸公差 SJ 1624-80 微波铁氧体隔离器、环行器总技术条件 SJ 1625-80 微波铁氧体同轴隔离器、环行器 SJ 1626-80 微波铁氧体波导隔离器、环行器 SJ 1632-80 波导元件型号命名方法 SJ/T 1635-96 电子工业管路的基本识别色和识别符号 SJ 1636-80 ３ＤＤ１５１型、３ＤＤ１５２型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1637-80 ３ＤＤ１５３型、３ＤＤ１５４型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1638-80 ３ＤＤ１５５型、３ＤＤ１５６型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1639-80 ３ＤＤ１５７型、３ＤＤ１５８型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1640-80 ３ＤＤ１５９型、３ＤＤ１６０型、３ＤＤ１６１型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1641-80 ３ＤＤ１６２型、３ＤＤ１６３型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1642-80 ３ＤＤ１６４型、３ＤＤ１６５型、３ＤＤ１６６型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1643-80 ３ＤＤ１６７型、３ＤＤ１６８型、３ＤＤ１６９型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1644-80 ３ＤＤ１７０型、３ＤＤ１７１型、３ＤＤ１７２型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1645-80 ３ＤＤ１７３型、３ＤＤ１７４型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1646-80 ３ＤＤ１７５型、３ＤＤ１７６型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1647-80 ３ＤＤ２５３型、３ＤＤ２５４型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1648-80 ３ＤＤ２５５型、３ＤＤ２５６型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1649-80 ３ＤＤ２５７型、３ＤＤ２５８型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1650-80 ３ＤＤ２５９型、３ＤＤ２６０型、３ＤＤ２６１型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1651-80 ３ＤＤ２６２型、３ＤＤ２６３型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1652-80 ３ＤＤ２６４型、３ＤＤ２６５型、３ＤＤ２６６型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1653-80 ３ＤＤ２６７型、３ＤＤ２６８型、３ＤＤ２６９型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1654-80 ３ＤＤ２７０型、３ＤＤ２７１型、３ＤＤ２７２型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1655-80 ３ＤＤ２７５型、３ＤＤ２７６型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管 SJ 1657-80 铜垫密封超高真空法兰型式及尺寸系列 SJ 1659-80 铜密封垫型式及尺寸系列 SJ 1661-80 电子工业专用设备热处理技术要求（暂行） SJ 1666-80 ＦＭ－１５０型电子管 SJ 1667-80 ＦＭ－１２Ｆ型电子管 SJ 1668-80 ＦＭ－１１０、ＦＭ－１１０Ｆ型电子管 SJ 1671-80 雷达用低压直流稳压电源技术条件 SJ 1672-80 ３ＤＧ２５３型ＮＰＮ硅正向自动增益控制高频小功率三极管 SJ 1673-80 ３ＤＧ２５４型ＮＰＮ硅正向自动增益控制高频小功率三极管 SJ 1674-80 ３ＤＧ２５５型ＮＰＮ硅图象中放末级三极管 SJ 1682-80 ３ＤＡ１５１型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1683-80 ３ＤＡ１５２型ＮＰＮ硅高频大功率三极管 SJ 1686-80 ３ＤＤ２０２型ＮＰＮ硅低频大功率三极管 SJ 1689-80